從1953年至今，菲希爾（FISCHER）公司不斷地在涂鍍層測 厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā) 展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技 術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對儀器準(zhǔn)確 度、精度和可靠性的要求。 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的，菲希爾（FISCHER）很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料 分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè) 級耐用的測量儀器。*臺菲希爾X射線儀器在 二十世紀(jì)八十年代初就已面世。 從那時(shí)起，菲希爾（FISCHER）不斷改進(jìn)和研發(fā)X射線熒光技 術(shù)，使得該項(xiàng)技術(shù)在今天居于地位。其中的 一個例子是透明的狹縫設(shè)計(jì)，從而使用戶可以與 基本射線同方向查看樣品。另外，打開儀器艙門 自動彈出測量平臺（“彈出功能”）也是由 菲希爾實(shí)現(xiàn)的。在軟件方面，菲希爾是*使用 *基本參數(shù)法來計(jì)算光譜的公司。 菲希爾（FISCHER）在生產(chǎn)過程實(shí)行嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)控制，在 對零部件進(jìn)行苛刻的檢驗(yàn)，確保菲希爾X射線儀 器有著的高可靠性。 目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強(qiáng)大，可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。 的工業(yè)制造和科學(xué)研究都依賴于這些可靠且的儀器設(shè)備。菲希爾（FISCHER）一貫以持續(xù)的研發(fā)、先進(jìn)的設(shè)備和創(chuàng)新的軟件來迎接挑戰(zhàn)。因?yàn)橹挥薪?jīng)過精心構(gòu)思設(shè)計(jì)和按照高標(biāo)準(zhǔn)制造的產(chǎn)品，zui終 才能有*的工作性能。也只有這樣的產(chǎn)品才能配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品牌。 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層 厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性 分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng) 的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境 中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化 設(shè)備一起發(fā)揮作用。 EDXRF作為一種常用測試方法，有著其突出的優(yōu) 勢。它幾乎可以測量所有工藝相關(guān)元素，并且工 作時(shí)無損且不接觸樣品。測量時(shí)間一般在數(shù)秒鐘 內(nèi)，很少多于一分鐘。通常不需要復(fù)制的樣品制 備，即可進(jìn)行快速測量。利用該方法，可以同時(shí) 測量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學(xué)成分。不僅如 此，EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害 物質(zhì)。 此外，X射線熒光分析是一種清潔的測量方法， 測量過程不使用任何化學(xué)制品。由于有著合理精 巧的設(shè)計(jì)，X射線不會對操作人員和環(huán)境構(gòu)成任 何威脅：菲希爾X射線儀器是安全可靠的。 X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原 子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的 某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填 補(bǔ)，在填補(bǔ)的過程中，會產(chǎn)生每個元素*的特征X 射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣 品的材料組成等信息。 由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和 測量薄鍍層及鍍層系統(tǒng)，因而應(yīng)用廣泛： 在電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)里，測量觸點(diǎn)上薄金，鉑和 鎳層厚度或痕量分析。 在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中，分析 貴金屬合金組分。 在質(zhì)量管控和來料檢驗(yàn)中，需要確保產(chǎn)品或零部 件*材料設(shè)計(jì)規(guī)范。如在太陽能光伏電池 產(chǎn)業(yè)中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了 光伏電池的效率。在電鍍行業(yè)中，則需要測量大 批量部件的厚度。 對于電子產(chǎn)品的生產(chǎn)者和采購者，檢驗(yàn)產(chǎn)品是否 符合《限制在電子電氣產(chǎn)品中使用有害物質(zhì)的指 令》（RoHS指令）也是十分關(guān)鍵的。 在玩具工業(yè)中，也需要有可靠的有害物質(zhì)檢測手 段。 對于以上測量應(yīng)用，菲希爾的FISCHERSCOPE X- 射線光譜儀都能勝任。 將X射線熒光的測量原理轉(zhuǎn)變?yōu)槟陀酶呔鹊臏y 量設(shè)備，能在實(shí)驗(yàn)室和日常工業(yè)生產(chǎn)中可靠工 作，需要有開創(chuàng)性的創(chuàng)造力和持之不懈的研發(fā) 能力。在菲希爾，我們激情飽滿，全力以赴。這 點(diǎn)，您可以在FISCHERSCOPE X射線儀器廣泛而 多樣的產(chǎn)品型號中一窺究竟 比如，測量方向?yàn)樽韵峦闲偷墓庾V儀是快速便 捷地測量大批量生產(chǎn)零件的理想選擇。然而對于 諸如硅晶片等不適合接觸測量臺的樣品，那么正 確的選擇應(yīng)該是測量方向?yàn)閺纳贤碌膬x器。 另一方面，如果要測量引線框架上的針腳或 判斷某一區(qū)域內(nèi)的均勻性時(shí)，就需要有極小測量 面積并且有高精度可編程XY平臺定位的儀器。 對于在運(yùn)行中的生產(chǎn)線上進(jìn)行在線測量的要求嚴(yán) 格的場合，就需要一個*不同的測量系統(tǒng)，比 如可以直接將測量頭置于真空艙中。 |
